下層二層流の実験結果より、密度界面近傍の乱流特性量（流速勾配・密度勾配・乱れ強度・内部波高・連行速度）が界面の摩擦速度を用いたクーリガンパラメータＫ（＝ｕ＊／εｇｖ）で統一的に表現されることがわかった。
　また流速分布が界面付近では直線分布で、界面から離れた所では対数分布で表現されることが確認された。
　これらの成果を用いて界面抵抗係数、界面の安定限界及び界面での連行係数の算定を行った。その結果、界面抵抗係数は岩崎数のみの関数ではなく、レイノルズ数と内部フルード数の関数となるとともに界面流速にも強く影響されることがわかった。また界面での連行係数は従来考えられていたような層平均リチャードソン数のみの関数ではなく、レイノルズ数が影響することが明らかとなった。